当前位置: 首页 > YYVIP易游技术文档
更新时间:2026-04-15
点击次数:
1.一种多功能外穿过式涡流检测探头结构,其特征在于:包括公检测探头、母检测探头
和卡接件,公检测探头和母检测探头通过卡接件可以拼接在一起及分开,公检测探头和母
检测探头包括壳体,壳体的中间开设有穿透两端的检测通孔,壳体上还设置有用于涡流检
测的检测线圈,检测线圈和检测通孔的中心线重合,检测线圈电性连接有插接头,插接头有
2.如权利要求1所述的多功能外穿过式涡流检测探头结构,其特征在于:所述卡接件包
括固定在所述公检测探头上的插柱和开设在所述母检测探头上的插孔,插柱和插孔对应设
3.如权利要求2所述的多功能外穿过式涡流检测探头结构,其特征在于:所述插柱为两
根、三根或四根,所述插柱均匀的固定在所述公检测探头的端面上,所述插孔以应开设在所
4.如权利要求1所述的多功能外穿过式涡流检测探头结构,其特征在于:所述卡接件包
括固定在公检测探头端部的外螺纹管和固定在所述母检测探头端部的内螺纹管,外螺纹管
和内螺纹管对应设置,外螺纹管、内螺纹管和检测通孔的中心线所述的多功能外穿过式涡流检测探头结构,其特征在于:所述壳体的端
面设置有圆柱形凸台,圆柱形凸台的中心线与所述检测通孔的中心线重合,所述检测通孔
穿过圆柱形凸台的中心,圆柱形凸台的圆周侧面开设有线圈缠绕凹槽,所述检测线圈缠绕
7.如权利要求6所述的多功能外穿过式涡流检测探头结构,其特征在于:所述圆柱形壳
评定导电材料及其工件的某些性能,或发现缺陷的无损检测方法。在工业生产中,涡流检测
是控制各种金属材料及少数石墨、碳纤维复合材料等非金属导电材料及其产品品质的主要
由于应用目的不同,当用于高灵敏度缺陷,如沙眼、点蚀、突变性裂纹,等,一般两
个接收线圈的间距都会采用自比式,如图1,即:在一个涡流检测探头A1中在同轴线上布置
而对于不同金属材质的混料筛选,或者壁厚变化的检测,往往则采用他比式,如图
2,即:在一个涡流检测探头A3中布置两个并列的接收线,一个用于参照,一个用于检
场景和需求的变化,则需要更换不同的涡流检测探头,给使用方带来一定的成本增加。
根据检测场景不同,需要采用自比式涡流检测探头或者他比式涡流检测探头,自比式涡流
一种多功能外穿过式涡流检测探头结构,包括公检测探头、母检测探头和卡接件,
公检测探头和母检测探头通过卡接件可以拼接在一起也可以分开,公检测探头和母检测探
头包括壳体,壳体的中间开设有穿透两端的检测通孔,壳体上还设置有用于涡流检测的检
测线圈,检测线圈和检测通孔的中心线重合,检测线圈电性连接有插接头,插接头有固定的
在所述母检测探头上的插孔,插柱和插孔对应设置。或者,所述卡接件包括固定在公检测探
头端部的外螺纹管和固定在所述母检测探头端部的内螺纹管,外螺纹管和内螺纹管对应设
作为进一步的技术方案,所述插柱为两根、三根或四根,所述插柱均匀的固定在所
线与所述检测通孔的中心线重合,所述检测通孔穿过圆柱形凸台的中心,圆柱形凸台的圆
作为进一步的技术方案,所述壳体为圆柱形壳体、正三角柱形壳体或矩形柱壳体。
拼接在一起也可以分开,公检测探头和母检测探头拼接在一起就形成自比式的涡流检测探
头,公检测探头和母检测探头分开就形成他比式的涡流检测探头,具有两种涡流检测探头
的功能,具有突变缺陷检测、缓变缺陷检测、测厚或材质区分检测的多功能用途,降低了用
或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅
是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提
清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实
施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所
参照图3‑8,一种多功能外穿过式涡流检测探头结构,包括公检测探头1、母检测探
头2和卡接件,公检测探头1和母检测探头2通过卡接件可以拼接在一起也可以分开,公检测
探头1和母检测探头2包括壳体31,壳体31的中间开设有穿透两端的检测通孔32,壳体31上
通过信号线提供电流,另一方面可以将检测线的数据向外传输,检测线可以选择铜线]
作为进一步的技术方案,所述卡接件包括固定在所述公检测探头1上的插柱51和
作为进一步的技术方案,所述插柱51为两根、三根或四根,所述插柱51均匀的固定
在所述公检测探头1的端面上,所述插孔52以应开设在所述母检测探头2的端面上。
作为进一步的技术方案,所述壳体31的端面设置有圆柱形凸台35,圆柱形凸台36
作为进一步的技术方案,所述壳体31为圆柱形壳体、正三角柱形壳体或矩形柱壳
开,公检测探头1和母检测探头2拼接在一起就形成自比式的涡流检测探头,公检测探头1和
母检测探头2分开就形成他比式的涡流检测探头,具有两种涡流检测探头的功能,具有突变
缺陷检测、缓变缺陷检测、测厚或材质区分检测的多功能用途,降低了用户使用成本,提高
杆8中感应出涡流,感应的涡流反过来会影响检测线周围原有的磁场分布,从而导致检
测线的测量阻抗发生变化,涡流携带了被测金属杆8的厚度、缺陷、电导率等信息,通过
测量因涡流引起的检测线阻抗变化可推知被测金属杆8的相关参数,根据得到的参数
参照图9,本实施例与实施例1的区别在于:所述卡接件包括固定在公检测探头1端
部的外螺纹管61和固定在所述母检测探头2端部的内螺纹管62,外螺纹管61和内螺纹管62
实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型